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La spettroscopia fotoelettronica a raggi X, comunemente indicata con XPS o XPES (dall'inglese X-ray photoelectron spectroscopy), è una tecnica di spettroscopia fotoelettronica, per la precisione una spettroscopia ESCA, utilizzata per sondare le superfici dei materiali. Essa consente infatti di conoscere gli elementi chimici che compongono la superficie di un materiale e di determinarne talvolta lo stato di legame.